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—用于快速準(zhǔn)確的半導(dǎo)體質(zhì)量控制和分析的新型生產(chǎn)車間工具分析半導(dǎo)體從晶圓到終端器件的狀態(tài)被認(rèn)為是高難度的工作，很少有分析設(shè)備可以直接用作生產(chǎn)中材料質(zhì)量好壞的“裁決者”。--表面光電壓技術(shù)新品亮相德國(guó)FreibergInstruments全新的高分辨率表面光電壓光譜(HR-SPS)是一個(gè)真正的生產(chǎn)型設(shè)備，因?yàn)樗诓挥绊懝に嚠a(chǎn)出速度的情況下完成工作。HR-SPS檢查生產(chǎn)中使用的材料的關(guān)鍵良率參數(shù)-無(wú)論是硅、碳化硅還是其他半導(dǎo)體或光活性材料。產(chǎn)品介紹HR-SPS設(shè)備測(cè)量材料在一個(gè)或多...

全球-PHIGENESIS在近期已到達(dá)束蘊(yùn)儀器（上海）有限公司的倫琴實(shí)驗(yàn)室并完成安裝調(diào)試。倫琴實(shí)驗(yàn)室是國(guó)內(nèi)專業(yè)從事X射線相關(guān)分析與開(kāi)發(fā)的機(jī)構(gòu)，提供多方位的X射線測(cè)試服務(wù)，以廠家應(yīng)用實(shí)驗(yàn)室標(biāo)準(zhǔn)配置了新型設(shè)備。針對(duì)復(fù)雜材料和器件完成從晶體結(jié)構(gòu)到電子結(jié)構(gòu)的完善解析，以及從埃米到毫米的跨尺度表征。束蘊(yùn)儀器的測(cè)試團(tuán)隊(duì)由應(yīng)用專家領(lǐng)導(dǎo)，同時(shí)與Bruker，ULVAC-PHI等儀器制造商為深度合作伙伴。ULVAC-PHI于2022年7月推出了具備有多功能平臺(tái)的X射線光電子能譜儀（XPS）-P...

半導(dǎo)體元器件是現(xiàn)代電子技術(shù)中最為重要的組成部分之一。它們通過(guò)控制電流和電壓來(lái)實(shí)現(xiàn)信息的處理和傳輸，被廣泛應(yīng)用于計(jì)算機(jī)、通信、醫(yī)療、能源等領(lǐng)域。CT-半導(dǎo)體元器件主要包括二極管、三極管、場(chǎng)效應(yīng)管、集成電路等。其中，二極管是Z簡(jiǎn)單的半導(dǎo)體元器件，它由P型和N型半導(dǎo)體構(gòu)成，具有單向?qū)щ娦再|(zhì)。在電路中，二極管可用于整流、限流、穩(wěn)壓等方面。三極管則由P型、N型半導(dǎo)體以及中間的控制區(qū)組成，可以放大或開(kāi)關(guān)電路。場(chǎng)效應(yīng)管則是一種控制電流的元器件，其特點(diǎn)是輸入電阻高、噪聲低，適用于高頻電路。集...

電子自旋共振波譜儀(ElectronSpinResonanceSpectrometer,ESR)是一種分析物質(zhì)中未成對(duì)電子的技術(shù)。它利用電子在磁場(chǎng)中的行為來(lái)測(cè)量樣品中的未成對(duì)電子數(shù)量、結(jié)構(gòu)和動(dòng)力學(xué)。在一個(gè)ESR實(shí)驗(yàn)中，樣品被置于一個(gè)恒定的強(qiáng)磁場(chǎng)中，然后通過(guò)向樣品施加微波或射頻輻射來(lái)激發(fā)未成對(duì)電子的自旋。當(dāng)微波或射頻能量與未成對(duì)電子的自旋相互作用時(shí)，能量將被吸收，導(dǎo)致樣品中未成對(duì)電子的自旋狀態(tài)發(fā)生變化。通過(guò)在吸收能量時(shí)記錄所施加的微波或射頻輻射的頻率，可以獲得有關(guān)未成對(duì)電子的信...

高分辨X射線顯微鏡是X射線成像術(shù)的一種，也是顯微成像技術(shù)，即將微觀的、肉眼無(wú)法分辨看出的結(jié)構(gòu)、圖形放大成像以便觀察研究的器械。X射線成像的襯度原理、設(shè)備的構(gòu)造與主要組成部件(如X射線源、探測(cè)器等)，但主要是從宏觀物體的成像(如人體器管的醫(yī)學(xué)成像、機(jī)械制品的缺陷探傷、機(jī)場(chǎng)車站的安全檢查等)出發(fā)的。宏觀成像與微觀成像有相通之處，如襯度原理、設(shè)備的主要組成部件等，但也有區(qū)別。高分辨X射線顯微鏡的成像原理與光學(xué)顯微鏡基本上是一樣的，遵從幾何光學(xué)原理，其關(guān)鍵部件是成像和放大作用的光學(xué)元...

X射線衍射儀分為單晶衍射儀和多晶衍射儀兩種。單晶衍射儀的被測(cè)對(duì)象為單晶體試樣，主要用于確定未知晶體材料的晶體結(jié)構(gòu)?；驹恚涸谝涣尉w中原子或原子團(tuán)均是周期排列的。將X射線(如Cu的Kα輻射)射到一粒單晶體上會(huì)發(fā)生衍射，由對(duì)衍射線的分析可以解析出原子在晶體中的排列規(guī)律，也即解出晶體的結(jié)構(gòu)。X射線衍射儀結(jié)構(gòu)組成：(1)X射線發(fā)生器——產(chǎn)生X射線的裝置;X射線發(fā)生器由X射線管、高壓發(fā)生器、管壓和管流穩(wěn)定電路以及各種保護(hù)電路等部分組成。現(xiàn)代衍射用的X射線管都屬于熱電子管，有密封式...

熒光光譜儀是通過(guò)X射線管產(chǎn)生的X射線作為激光源，激發(fā)光源激發(fā)樣品產(chǎn)生X熒光射線。根據(jù)熒光X射線的波長(zhǎng)和強(qiáng)度來(lái)確定樣品的化學(xué)組成。作為一種質(zhì)量檢測(cè)手段，光譜儀在我國(guó)各行各業(yè)應(yīng)用越來(lái)越廣泛。研究光譜儀在分析過(guò)程中的誤差，提高儀器的分析準(zhǔn)確度成為重要的課題。熒光分析過(guò)程中產(chǎn)生誤差的原因主要有操作方面、儀器方面、以及試樣本身等三方面因素。一、在熒光光譜儀分析中操作方面帶來(lái)誤差的因素：1、在光譜儀分析制樣過(guò)程中，粉磨時(shí)未設(shè)定好粉磨時(shí)間和壓力，達(dá)不到要求的粉磨粒度或相應(yīng)的料度分布。實(shí)驗(yàn)表...

目前市場(chǎng)上熒光光譜儀的品類與品牌都比較多。尤其很多生產(chǎn)為了更好的體現(xiàn)，運(yùn)用了針對(duì)性，保障價(jià)值的實(shí)惠性，會(huì)在具體的功效內(nèi)容以及材質(zhì)運(yùn)用上有所差異。所以要想更好的了解光譜儀的品質(zhì)是否保障，從以下幾個(gè)要點(diǎn)入手分析很有必要。一、模塊細(xì)節(jié)的內(nèi)容組成現(xiàn)如今作用好的熒光光譜儀一般都是建立在激光光源、原子化器、光學(xué)系統(tǒng)、檢測(cè)器相關(guān)功能組成前提下實(shí)現(xiàn)的，其且就是每一個(gè)功能都會(huì)發(fā)揮*的作用，在檢測(cè)的過(guò)程中，尤其這些構(gòu)造環(huán)環(huán)相扣，確保了數(shù)據(jù)出具的準(zhǔn)確性。所以在光譜儀采購(gòu)的過(guò)程中深入的了解每一個(gè)構(gòu)造...